不同压力下的露点可以随时被测量，DP350压力露点仪市场上少有的露点仪
在工业领域中，很多场合需要测量不同压力下的露点值，而市场上的露点仪95%都是常压露点仪，不能反映出压力变化下对露点的影响，意大利ADEV公司推出的新款压力露点仪DP350露点仪具备Mems压力传感器，可以给予露点仪传感器提供压力的实时数值，真正的一款压力露点仪。
DP350 露点及压力多参数变送器(-80…20 ºCtd)
1. 性能/优势
- ADEV全新的高分子薄膜传感器技术及基于MEMS的压力传感器
- 可同时监测露点及在线压力(**压力1 … 17 bar)
- 高达+/-2Ctd的精度测量（见下图）可移动式露点仪
- 自动加热校准功能
- 超快的响应速度及出色的长期稳定性
- 防冷凝结露，抗微粒污染、油蒸汽及多数化学品
- 出厂前的多点温度补偿校验
- 出色的抗干扰能力
- IP65防护等，即使恶劣的环境下也能提供良好的保护
- 通过标配的RS485接口及功能强大的服务软件，提供**的传感器设置，数据传输，软件升及维护功能
不同压力下的露点可以随时被测量，DP350压力露点仪市场上少有的露点仪
2. 介绍
- ADEV全新材料的高分子薄膜传感器技术，使其具备了一般高分子薄膜传感器的高湿响应优点，同时具备了****的低湿响应水平
- 自动加热功能大大加快了传感器从高湿到低湿的响应速度，利用独特的加热算法，提供了业界的响应速度。同时加热功能大大提升了此传感器的抗冷凝、抗污染能力可移动式露点仪
- 出色的传感器电路设计能自动补偿由温度、污染、老化引起的电路漂移，提供长期可靠的高精度测量。结合自动加热功能及此全新材料的高分子薄膜传感器技术的超高稳定性，重新校准的周期得以延长至两年以上
- **的温度补偿算法及出厂前多点温度的补偿校验，大大改善了传感器的温度漂移，保证了宽温度范围内的高精度测量
不同压力下的露点可以随时被测量，DP350压力露点仪市场上少有的露点仪
3. 技术参数
测量参数
露点测量范围 -80 … +20 Ctd（标准）
-60 … +20 Ctd（标准）
量程可订制
压力测量范围，**压力 1 … 17 bar
温度测量范围 -40 … +100 C
测量精度
露点精度(空气或氮气) +/- 2 Ctd（见下图）
温度精度
0 … +50 C +/-0.3 C（标准）
-40…0 C及+50…+100 C +/-0.5 C（标准）
温度精度要求可订制
压力精度@23C +/-0.3 %FS
压力随温度漂移 +/-0.01 bar/10C
响应时间63% [90%]，20C，1bar(gauge)，4L/min
露点传感器
-80 -> -30 Ctd 20秒[40秒]
-30 -> -70 Ctd 5分钟[20分钟]
压力响应时间 < 1 s
不同压力下的露点可以随时被测量，DP350压力露点仪市场上少有的露点仪
输出
电流输出（量程可改） 4…20 mA（3线）
电流输出分辨率 0.002 mA
电流输出温度漂移 0.01% of span / C
电流输出负载 大500 ohm
数字输出 RS485
连接器 5-pin M12可移动式露点仪
电源
自动加热 16…30 V / 250 mA
正常测量 16…30V / 30 mA + 4-20mA电流输出
工作环境
工作温度 -20…+70 C
存储温度 -30…+80 C
相对湿度 0…95 %RH
样气流速 >1 L/min
压力 0…50 bar
其他
外壳 不锈钢
保护等 IP65
机械部件连接 ISO G 1/2”
不锈钢网过滤器 过滤等< 30um
电磁兼容 符合IEC 61326-1
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