ADEV露点仪校准时系统压力变化对测量结果的影响|埃登威自动化系统设备(上海)有限公司

ADEV露点仪校准时系统压力变化对测量结果的影响

露点仪在多个领域,如航空、航天、石化、电力等都有广泛应用,是现代湿度测量的重要工具。为确保其测量准确性,定期的校准是必不可少的。而在校准过程中,系统压力的变化是一个不容忽视的因素。本文将探讨压力变化如何影响两种常见露点仪的测量结果。

1. 镜面式露点仪ADEV露点仪校准时系统压力变化对测量结果的影响

对于镜面式露点仪,其测量原理基于湿空气在降温过程中的水汽饱和状态。当湿空气的混合比恒定时,其水蒸汽分压与空气总压力成正比。这意味着压力越高,水蒸汽分压也越高,导致湿气露点温度相应增加。

例如,当混合比r = 0.001时,常压下的水蒸汽分压为特定值。若气路系统的压力因某种原因加倍,那么水蒸汽分压也会加倍,进而导致露点温度升高。计算显示,当系统压力变化一倍时,混合比为0.001的湿气的露点变化可达7.7℃。

因此,在露点仪的校准过程中,我们必须确保气路系统连接的准确性。任何气阻都可能导致系统压力的变化,从而影响露点的测量结果。

2. 阻容式露点仪ADEV露点仪校准时系统压力变化对测量结果的影响

与镜面式不同,阻容式露点仪的测量原理是基于湿敏元件的电阻或电容变化。其对于系统压力的变化不敏感。因此,在阻容式露点仪的校准过程中,我们无需过分担心系统压力变化对测量结果的影响。

为提高校准效率,多台阻容式露点仪可以串联方式连接到气路系统中,且出气口应确保2米以上的管线通入大气,避免空气倒流。

需要注意的是,以上的讨论基于实验室环境下的低压情况。在实际工业生产中,超高压环境下的湿度测量可能会出现不同的情况。

结论:ADEV露点仪校准时系统压力变化对测量结果的影响

在露点仪的校准过程中,我们必须注意系统压力的变化,并根据露点仪的类型采取相应的措施,确保测量结果的准确性。对于镜面式露点仪,要特别关注气路系统的连接方式,防止压力变化导致的测量误差。而对于阻容式露点仪,虽然其对压力变化不敏感,但仍需遵循正确的操作流程,确保校准的准确性。

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