纳米级镀层的快速、准确分析日立XRF镀层分析仪FT160
FT160 XRF镀层分析仪准确、可靠地测量小部件上的镀层，有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
FT160专为微焦斑和超薄镀层分析而设计，针对小部件的测量优化了光学系统和探测器技术。 产品：微量氧分析仪,药品残氧仪,露点仪,热导气体分析仪,GE流量计,OX-1氧传感器,顶空分析仪,红外气体分析仪,高温湿度仪,西门子U23分析仪,ppb微量水分析仪,OXY.IQ氧分析仪,烟气湿度仪,燃气热值仪,Kaye温度验证仪,L&W白度,仪激光氧分析仪,压缩空气露点仪,干燥机露点仪,激光气体分析仪,便携式露点仪,便携式微量氧分析仪，Fei （维修中心，代表处，总代理，分公司，子公司，售后中心，销售中心，上海办，办事处在哪里）
使用FT160 XRF镀层分析仪可实现更多操作：
高强度X射线——仪器的核心是一个具有30μm光束的新型毛细管光学系统，非常适合微小的半导体图案和超小组件。
高灵敏度的SDD探测器——这款高性能设备使计数速率翻倍，从而提高生产率。日立XRF镀层分析仪FT160
高清相机——观察相机的分辨率高，其具有16倍数字变焦功能，更容易观察半导体和PCB表面并易于导航。
智能控制器软件——可对FT160进行依照形状和图案自动查找测量位置的编程，以提高测量吞吐量和准确性。
日立XRF镀层分析仪FT160精密分析
样品台定位精度和毛细管X射线光学系统能提供高精度，可测量尺寸小于50µm的部件上的纳米级镀层。
快速分析
与传统装置相比，FT160内的新型高强度毛细管光学系统和改良版SDD探测器有助于使仪器的测量吞吐量翻倍。
多功能性
大型样品门有助于轻松装载和移除部件，同时大型样品台可容纳各种形状和尺寸的组件。
耐用性
坚固耐用的机架经过设计和测试，可在具有挑战性的生产或实验室环境中长时间使用。
FT160的强大功能使其成为工作繁重的实验室的理想选择。为维持工作流程，这些实验室注重准确性、多功能性和分析效率。
日立XRF镀层分析仪FT160能够提供：
| 毛细管光学系统和高灵敏度的SDD探测器，以提供准确性。
| 测量尺寸小于50µm的部件。
| 快速结果和使用简易性，以支持高吞吐量。
| 用于快速设置样品的大型样品门和样品台。
| 进行测试观察的大型样品观察窗。
更多日立XRF镀层分析仪FT160信息请直接致电埃登威上海021-55581219
