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日本ae-mic超高电阻测试仪

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产品名称: 日本ae-mic超高电阻测试仪
产品型号: AE-1644E
产品展商: 其它品牌
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简单介绍

日本ae-mic超高电阻测试仪
适用于 安装10kΩ〜1TΩ芯片，Melf，轴向型
超高电阻机器分选机，激光和切割机
修整机


日本ae-mic超高电阻测试仪  的详细介绍

日本ae-mic超高电阻测试仪

 

  • 高速积分方法，噪声误差小（可以为每个范围设置积分时间）
  • 参考电阻值4位数字设置允许百分测量（±50.00％）
  • 可能的修整模式
  • 比较器判断结果可以是集电极开路输出，LED显示和蜂鸣器声音
  • 可以联系检查
  • RS-232C接口标准设备（GP-IB /中央电子输出是可选的）
  • 内置换档螺线管电源（可选）[DC12V（2A）/ 24V（1A）/脉冲输出（2A）]

日本ae-mic超高电阻测试仪测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）

测量范围 测量范围 测量精度
测量电压H 测量电压L
100kΩ的 5.00kΩ至150.00kΩ 15伏 ±0.03％±1位数[读数的±0.1％±1位数] 15伏 ±0.03％±1位数[读数的±0.1％±1位数]
1兆欧 50.0kΩ〜1500.0kΩ
10兆欧 0.500MΩ至15.000MΩ
100兆欧 5.00MΩ至150.00MΩ 100伏 ±0.05％±1位数[读数的±0.2％±1位数] 15伏 ±0.3％±1位数[读数的±1.2％±1位数]
1GΩ 50.0MkΩ至1500.0MΩ
10GΩ 0.500GΩ至15.000GΩ 100伏 ±0.2％±1位数[读数的±0.5％±1位数] 15伏 ±1.2％±2位数[读数的±1.5％±1位数]
100GΩ 5.00GΩ至150.00GΩ 200伏 ±0.5％±2位数[读数的±0.8％±2位数] 15伏 ±1.5％±2位数[读数的±2.0％±2位数]
1兆欧 50.00GΩ〜1500.0GΩ 200伏 ±0.1％±4位数字[读数的±1.5％±4位数字] 无法选择
测量值显示范围 日本ae-mic超高电阻测试仪测量值的％：±50.00％
OHM测量：500〜15000
测量方式 恒压测量[可以通过2端子测量进行接触检查]
测量时间 （将被测物体连接到测量端子后，经过足够的稳定时间后输入启动信号）
[外部启动整合时间]
[FAST] 1〜29毫秒（可以1毫秒为单位设置。
[SLOW] PLC50Hz：20.0毫秒×（1〜9）周期（可以1周期为单位设置）大180毫秒。
PLC60Hz：16.7毫秒×（1〜9）周期（可以1周期为单位设置）大150.3毫秒。
[自由运行]：大约3次/秒至20次/秒
比较器设定范围 ％测量：HI和LO均为±50.00％OHM测量：HI和LO均为500至15000
控制信号 测量开始信号：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始
保持信号：断开，“ H” [DC12V]：自由运行，“ L” [0V]：保持
判断结果信号：[LO / GO / HI]，测量结束信号[EOC]集电极开路输出大40V 100mA
周边环境 日本ae-mic超高电阻测试仪温度：5℃〜+ 40℃湿度：85％以下
需要电源 AC85V-265V，50-60Hz，约20VA
外形尺寸 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起）
重量 约2.5公斤
标准 支持CE标记
选项 ・ GP-IB 这些选项中
只有一个可以内置。
・打印机输出
・换档/电磁电源
・打印机电缆

 日本ae-mic超高电阻测试仪

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