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日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪

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产品名称: 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
产品型号: AE-162D
产品展商: 其它品牌
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简单介绍

日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
适用
于 D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机


日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪  的详细介绍

日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪

 

  • 模拟到数字隔离，提高了抗噪声能力，具有很高的稳定性
  • 与极小的芯片兼容（低功率测量）
  • 超高速0.7毫秒（代表值）
  • 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
  • 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能，实现超高速和高稳定性测量
  • ％测量：±99.99％[5mΩ-109MΩ]
  • 测量：0.00mΩ〜200.00MΩ
  • 接触检查：测量前/测量后/ OFF
  • RS-232C接口标准设备（GP-IB是可选的）
  • 打印机输出标准设备（与Centronics兼容）
  • 设置值传送功能作为标准设备：（相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置）
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备

校准后180天[校准后1年：1.5倍]的测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）

测量范围 标准值设定范围 实测电流 测量精度*
慢 快速
100毫欧 5mΩ-100mΩ 100毫安 ≤±0.02％±2a±2d ≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d
1Ω 100.1mΩ〜1Ω 100毫安 在±0.02％±a±1d之内 ≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d
10Ω 1.001Ω〜10Ω 50毫安
100Ω 10.01Ω-100Ω 10毫安 ±0.02％±1d以内 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
1kΩ 100.1Ω〜1kΩ 5毫安
10kΩ的 1.001kΩ〜10kΩ 0.5毫安
100kΩ的 10.01kΩ-100kΩ 50微安
1兆欧 100.1kΩ〜1MΩ 5微安 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
10兆欧 1.001MΩ〜10MΩ 0.5微安 ±0.03％±1d以内 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之内
100兆欧 10.01MΩ〜109MΩ 0.05微安 ±0.1％±2d以内 ───

* D =数字，n =积分时间（毫秒），％测量：α=（100 /标准设定值mΩ）x 0.01％，值测量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽状态下的精度

测量时间 外部启动 自由奔跑
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪慢 快速 慢 快速
大约18毫秒-400毫秒 大约0.7毫秒-400毫秒 约30次/秒〜
约2次/秒 		约60次/秒〜
约2次/秒
测量端子开路电压 15V以下
测量结束信号（EOC）脉冲宽度 1到250毫秒，并且可以连续设置
测量方式 4端子测量/ 2端子测量可切换
判断值设定范围 ％测量：±99.99％，值测量：00000-20000
周边环境 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪温度：0°C至+ 50°C，湿度：80％以下
需要电源 AC85V〜265V，50Hz〜60Hz，约50VA
外形尺寸 333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起）
重量 约3.5kg
选项 ・ GP-IB
・日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪数据传输线
・短接（零欧姆标准电阻）
・转换适配器（3P x2⇒5P）

 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪AE-162D

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