产品资料

日本napson薄层电阻测量仪4探头

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产品名称: 日本napson薄层电阻测量仪4探头
产品型号: 四点探头
产品展商: 其它品牌
产品文档: 无相关文档

简单介绍

日本napson用于电阻/薄层电阻测量仪4探头
探头头类型>
Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。


日本napson薄层电阻测量仪4探头  的详细介绍

日本napson用于电阻/薄层电阻测量仪4探头




 


 

产品特点

<探头头类型>日本napson薄层电阻测量仪4探头

Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。

  • （1）墨盒类型（Napson原装） [产品图片左上]
  • （2）小模块类型[产品图像左下方]
  • （3）6针连接器类型[产品图片右上]
  • （4）Jandel原始类型 [产品图片右下]

 

Napson的4探针法电阻/薄层电阻测量仪器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探针探头。
Jandel探头醉适合用于测量需要高精度的半导体和金属薄膜的电阻和薄层电阻，并且已经经过了多年的高度评估。
*由于使用了V型弹簧，因此触针压力始终稳定。
*上下均使用珠宝导板来固定探头，因此具有出色的针间精度和稳定性。
*轴和刀头是一体的，因此对刀头的损害很小，并且具有出色的耐用性。

测量规格日本napson薄层电阻测量仪4探头

根据材料，表面条件和待测样品的形状选择类型。

<推荐参考示例>

目标样品  探头
（材料/半径）  		测针压力/书本 
硅锭块 TC-40u 200克
硅片 TC-40u 200克
虾结构层 TC-150u 100克
薄外延层 TC-150u，500u 50克
薄层如浅扩散 OS-200u，500u 50克
扩散层 OS-200u，TC-150u 100克
离子黑斑 TC-150u 50克，100克
金属薄膜 TC-150u，500u 25g，50g，100g
ITO膜  TC-150u，500u 25g，50g，100g

 

*可以使用上述以外的样品进行测量（导电）。请联系我们。

*也可以使用其他类型。日本napson薄层电阻测量仪4探头
*也可根据要求提供特殊规格。

（关于产品编号）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-针
材料：TC;碳化钨（OS; alloy合金）-
针尖半径：40μm（可能在25μm至500μm之间）-
针压力（g /书本）：200克（可能10克至250克）-
针间距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-针
排列：线性（标准）（可能是正方形）

日本napson用于电阻/薄层电阻测量仪4探头

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