产品资料

日本napson2探针法扩散电阻测试仪

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产品名称: 日本napson2探针法扩散电阻测试仪
产品型号: SRS-2010
产品展商: 其它品牌
产品文档: 无相关文档

简单介绍

日本napson2探针法扩散电阻测试仪
可以获得样品的深度方向上的电阻分布,外延层的厚度,PN结的深度以及载流子浓度分布。
可以从几平方毫米的区域分析几百微米的图案区域。
根据测得的扩展电阻,使用校准曲线计算电阻


日本napson2探针法扩散电阻测试仪  的详细介绍

日本napson2探针法扩散电阻测试仪

 

测量规格日本napson2探针法扩散电阻测试仪

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

测量规格日本napson2探针法扩散电阻测试仪

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸日本napson2探针法扩散电阻测试仪

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

测量规格日本napson2探针法扩散电阻测试仪

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

测量尺寸

*请联系我们。

测量范围

1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

日本napson2探针法扩散电阻测试仪

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