产品资料

日本napson电阻测量半自动装置

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产品名称: 日本napson电阻测量半自动装置
产品型号: RG-100PV
产品展商: 其它品牌
产品文档: 无相关文档

简单介绍

日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置
玻璃基板上薄膜的四探针法半自动测量仪
XY轴机构台
平面内多点测量配备了均匀螺距或随机螺距设置选择以及2-D ​​/ 3-D映射软件。


日本napson电阻测量半自动装置  的详细介绍

日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置

 

测量规格

测量目标日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置

  • 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
  • 导电薄膜相关（金属，ITO等）
  • 扩散样品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
  • 硅基外延离子注入样品
  • 与化合物半导体有关的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
  • 其他（*请与我们联系）

测量尺寸

大300 x 300毫米（选件;大500 x 500毫米）

 

测量范围日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置

[电阻（比电阻）] 1m至200Ω·cm 
[片电阻] 1m至1,000kΩ/ sq（选件；〜10MΩ/ sq）

测量规格

测量目标

  • 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
  • 导电薄膜相关（金属，ITO等）
  • 扩散样品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
  • 硅基外延离子注入样品
  • 与化合物半导体有关的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
  • 其他（*请与我们联系）

测量尺寸日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置

大300 x 300毫米（选件;大500 x 500毫米）

 

测量范围

[电阻（比电阻）] 1m至200Ω·cm 
[片电阻] 1m至1,000kΩ/ sq（选件；〜10MΩ/ sq）

映射图像日本napson平板电阻薄层电阻测量半自动装置

  • 半自动类型<br />（多点测量系统[包括软件+ PC]）
  • 半自动类型<br />（多点测量系统[包括软件+ PC]）

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