日本napson高规半自动四探针
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
日本napson高规半自动四探针
产品型号:
RT-3000 / RG-2000薄层电阻测量仪
产品展商:
其它品牌
产品文档:
无相关文档
简单介绍
日本napson高规半自动四探针薄层电阻测量仪具有拳球醉佳电阻测量范围的4探针法测量仪测量模式可编程和圆形/方形测量兼容的绘图软件自检功能，厚度/外围位置/温度补偿功能（用于硅）根据电阻范围从两种类型的测试仪中选择（RT-3000（S）：宽范围的测量范围，RT-3000（H）：高阻的测量范围）
日本napson高规半自动四探针 的详细介绍
日本napson高规半自动四探针薄层电阻测量仪
测量规格
测量目标
-
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
-
导电薄膜相关（金属，ITO等）
-
扩散样本
-
硅基薄膜（LTPS等），IGZO
-
硅基外延离子注入样品
-
其他（*请与我们联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
-选项（兼容大直径尺寸：RG-3000型）：〜12英寸，〜210 x 210毫米
测量范围
①RT-3000（S）；
[电阻（比电阻）]100μ至1MΩ·cm
[片材电阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000（H）;
[片材电阻] 10m至1GΩ/ sq
测量规格
测量目标
-
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
-
导电薄膜相关（金属，ITO等）
-
扩散样本
-
硅基薄膜（LTPS等），IGZO
-
硅基外延离子注入样品
-
其他（*请与我们联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
-选项（兼容大直径尺寸：RG-3000型）：〜12英寸，〜210 x 210毫米
测量范围
①RT-3000（S）；
[电阻（比电阻）]100μ至1MΩ·cm
[片材电阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000（H）;
[片材电阻] 10m至1GΩ/ sq
映射图像
日本napson高规半自动四探针薄层电阻测量仪
