产品资料

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪

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产品名称: 日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
产品型号: Cresbox
产品展商: 其它品牌
产品文档: 无相关文档

简单介绍

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
测量模式可编程和圆形/方形测量兼容的绘图软件
自检功能，测量范围广
厚度/周边位置/温度补偿功能（硅）
薄层电阻/金属膜厚显示功能


日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪  的详细介绍

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪

 

 

测量规格

测量目标

  • 日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
  • 导电薄膜相关（金属，ITO等）
  • 扩散样品硅基外延离子注入样品
  • 其他（*请与我们联系）

测量尺寸

〜8英寸，或〜156x156mm

 

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪测量范围

[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq

测量规格

测量目标

  • 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
  • 导电薄膜相关（金属，ITO等）
  • 扩散样品硅基外延离子注入样品
  • 其他（*请与我们联系）

测量尺寸

〜8英寸，或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq

测量规格

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪测量目标

  • 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
  • 导电薄膜相关（金属，ITO等）
  • 扩散样品硅基外延离子注入样品
  • 其他（*请与我们联系）

测量尺寸

〜8英寸，或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq

日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪

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