日本napson4探针法测量仪

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产品名称: 日本napson4探针法测量仪

产品型号: RT70V

产品展商: 其它品牌

产品文档: 无相关文档

简单介绍

日本napson4探针法测量仪
它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。

日本napson4探针法测量仪 的详细介绍

日本napson4探针法测量仪

测量仪：RT-70V>

使用JOG拨盘，厚度，温度，PN输入（RT-70V测试仪），易于操作
自检功能，自动量程切换，4种测量模式
具有厚度/温度补偿功能（用于硅）

<测量阶段>

*根据目的和用途，可以从以下选择测量阶段。

（1）RG-7C [产品图片左上]：电机自动上下探针台
（2）RG-5 [产品图像左下方] ：带手动手柄的探针上下平台
（3）RG-7S [产品图片右上]：用于玻璃基板/薄膜样品的XY工作台
（4）TS-7D [产品图像右下] ：便捷的探头类型*平台板是可选的。

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
扩散样本
硅基外延离子注入样品
其他（*请与我们联系）

日本napson4探针法测量仪测量尺寸

*组合测量取决于舞台类型。

圆形：〜300mm（12英寸），方形：〜730x920mm，可广泛使用。

测量范围

［电阻（电阻率）］1μ〜300kΩ・ cm
［板电阻］ 5m〜10MΩ/ sq

测量仪：RT-70V>

使用JOG拨盘，厚度，温度，PN输入（RT-70V测试仪），易于操作
自检功能，自动量程切换，4种测量模式
具有厚度/温度补偿功能（用于硅）

<测量阶段>

*日本napson4探针法测量仪根据目的和用途，可以从以下选择测量阶段。

（1）RG-7C [产品图片左上]：电机自动上下探针台
（2）RG-5 [产品图像左下方] ：带手动手柄的探针上下平台
（3）RG-7S [产品图片右上]：用于玻璃基板/薄膜样品的XY工作台
（4）TS-7D [产品图像右下] ：便捷的探头类型*平台板是可选的。

测量规格

日本napson4探针法测量仪测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
扩散样本
硅基外延离子注入样品
其他（*请与我们联系）

测量尺寸

*组合测量取决于舞台类型。

圆形：〜300mm（12英寸），方形：〜730x920mm，可广泛使用。

测量范围

［电阻（电阻率）］1μ〜300kΩ・ cm
［板电阻］ 5m〜10MΩ/ sq

日本napson4探针法测量仪

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日本napson4探针法测量仪

日本napson4探针法测量仪它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。

测量规格

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它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。