PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置
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产品名称:
PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置
产品型号:
napson PN-50α
产品展商:
其它品牌
产品文档:
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简单介绍
日本napson光伏非接触式PN判定装置产品特点通过LED光脉冲照射可以立即判断由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。还可以确定表面上有氧化膜的晶片
PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置 的详细介绍
日本napson光伏非接触式PN判定装置
光伏非接触式PN判定装置
产品名称：PN-50α
产品图片（可根据客户要求进行各种定制）
产品特点
-
通过LED光脉冲照射可以立即判断
-
由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
-
还可以确定表面上有氧化膜的晶片
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
支持2英寸或更大的锭块
测量范围
可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm
产品特点
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通过LED光脉冲照射可以立即判断
-
由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
-
还可以确定表面上有氧化膜的晶片
PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
支持2英寸或更大的锭块
测量范围
可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm
PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置产品特点
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通过LED光脉冲照射可以立即判断
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由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
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还可以确定表面上有氧化膜的晶片
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
支持2英寸或更大的锭块
测量范围
可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm
PN-50α日本napson光伏非接触式PN判定装置产品特点
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通过LED光脉冲照射可以立即判断
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由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
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还可以确定表面上有氧化膜的晶片
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
支持2英寸或更大的锭块
测量范围
可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm
日本napson光伏非接触式PN判定装置
