日本napson可定制手持式薄层电阻测量仪
DUORES手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）
产品名称：DUORES
产品图片（可根据客户要求进行各种定制）
产品特点
便于携带和测量的手持式薄层电阻测量装置：DUORES
根据测量目标更换和使用两种类型的探头（无损型和接触型）。
•*1台可以替换和使用两种类型的探头（无损型和接触型）的便携式座椅电阻测量装置 •
只需放置/敲击探头即可自动进行测量
•电池连续工作时间：24小时（*电池）使用时）
•显示的数据数量：多100（*从醉新数据显示）
•存储的数据数量：多50,000（*软件显示屏）
•测量数据传输功能：USB-Mini
•显示：3种类型的显示单元（Ω/□，S /□，n / m [金属膜厚度转换]）， 4位浮点少数点（0.000至9999）
*我们仅出售主体+非破坏性探头，并且仅出售主体+接触探头。
测量规格
测量目标
薄膜，玻璃，纸材料等
通常，可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低电子玻璃
•碳纳米管，石墨烯材料
•金属材料（纳米线，网格，网眼）
•其他
测量尺寸
不论尺寸和厚度如何均可测量
（*大于每个探头的测量点尺寸）
<测量点>
・无损探棒（涡电流型）：φ25mm
・接触式探头（4种探头类型）：9毫米
测量范围
・无损探棒（涡电流法）：0.5 -200Ω/ sq
・接触探棒（4探针法）：0.1 -4000Ω/ sq
日本napson可定制手持式薄层电阻测量仪
Model DUORES 手持式面电阻测试仪
Model DUORES 手持式面电阻测试仪可以容易更换使用非接触式和接触式两种测试探头
Model DUORES 手持式面电阻测试仪<NAPSON 原创的技术>
可替换手持式探头支持两种测试方式
（1）非接触式探头（涡电流测试法）
（2）接触式探头（四探针测试法）
探头触碰到样品时就会自动开始测量
可以长达24小时的测量时间
*多显示100组测量数据
*多储存50,000组测试数据
可通过USB-MINI将测量数据导出
测量数据显示4位数的浮动小数点
测试结果单位：Ω/sq，s/sq，n/m
任意样品只要在测试范围内都可以进行测试。（如薄膜、玻璃、纸张等）
导电薄膜（ITO, TCO等）
LOW-E玻璃
碳纳米管，石墨烯材料
金属材质（纳米银线，金属网格，金属薄膜）
其他材料
* 欢迎索取更详细产品资料，欢迎测样
样品尺寸：
任意尺寸形状样品都可以测试（测试面积必须大于探头面积）
DUORES日本napson可定制手持式薄层电阻测量仪
探头类型
非接触式探头（涡电流测试法） 0.5 ~ 200 ohm/sq
接触式探头（四探针测试法） 0.001 ~ 4000 ohm/sq ≦±0.5%
*精度
0.5~100ohm/sq： ≦3.0%*重复性
100~200ohm/sq：≦5.0%*重复性
*重复性 : NAPSON标准片的测量重复性 (CV = STDEVP/AVG×100%)（出货前即会校准）
*精度 : NAPSON标准电阻的测试精度（出货前即会校准）
<尺寸>主机：W80(100) ×D210 ×H36 mm, 约350g，{*并不含电池重量在其中}
非接触式探头：W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, 约170g
接触式探头：W40 ×D15 x H50 mm, 约85g
<电源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A
DUORES日本napson可定制手持式薄层电阻测量仪
