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eoptics颐光科技RT-V反射透射测量仪

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产品名称: eoptics颐光科技RT-V反射透射测量仪
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简单介绍

eoptics颐光科技RT-V反射透射测量仪RT-V反射透射测量仪RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率


eoptics颐光科技RT-V反射透射测量仪  的详细介绍

eoptics颐光科技RT-V反射透射测量仪

    RT-V反射透射测量仪
    RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。

  • 一、概述

           RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。

     ■  高性价比穿透率、反射率测量解决方案

     ■  色坐标计算和薄膜特征解析

     ■  模块化定制，支持在线集成应用

    二、产品特点

    ■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；

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    ■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；

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    三、产品应用

           RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。

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