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eoptics颐光科技SR-M显微膜厚仪

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产品名称: eoptics颐光科技SR-M显微膜厚仪
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简单介绍

eoptics颐光科技SR-M显微膜厚仪SR-M显微膜厚仪SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。一、概述 SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。■ 光斑大小可进行定制，*小可达到10um；■ 非接触、非破坏测量；■ 核心算法支持薄膜到厚膜、


eoptics颐光科技SR-M显微膜厚仪  的详细介绍

eoptics颐光科技SR-M显微膜厚仪

    SR-M显微膜厚仪
    SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。

  • 一、概述

           SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。

    ■ 光斑大小可进行定制，*小可达到10um；

    ■ 非接触、非破坏测量；

    ■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；

    ■ 配置灵活、支持定制化


    二、产品特点

    ■ 采用高强度卤素光源，光源稳定性好；

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    ■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；

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    ■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；


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    三、产品应用

            显微膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。


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