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eoptics颐光科技SE-VM光谱椭偏仪

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产品名称: eoptics颐光科技SE-VM光谱椭偏仪
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简单介绍

eoptics颐光科技SE-VM光谱椭偏仪SE-VM光谱椭偏仪SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置，支持多功能模块定制化设计。一、概述 SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪，其采用自主研发的椭偏**技术，具备 1 双旋转补偿器同步控制技术，2 透明基底消背反技术 等技术。快速实现


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eoptics颐光科技SE-VM光谱椭偏仪
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    SE-VM光谱椭偏仪
    SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置，支持多功能模块定制化设计。

  • 一、概述

           SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪，其采用自主研发的椭偏**技术，具备 1 双旋转补偿器同步控制技术，2 透明基底消背反技术 等技术。快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。

    ■  高精度椭偏测量解决方案；

    ■  超高精度、快速无损测量；

    ■  支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制；

    ■  丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。

    二、产品特点

    ■ 采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm)，可支持扩展紫外到近红外范围 (193-2500nm)；

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    ■  高精度双旋转补偿器调制、PCrSCrA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

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    ■ 支持系列配置灵活，可根据不同应用场景支持多功能模块化定制；

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    ■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料。

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    三、产品应用

    SE-VM广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。

    微信截图_20180923101857.png



    可选配件

    TCS.png

    Mapping.png

    ME-L0.png

    ME-L.png

    温控台Mapping扩展模块真空泵透射吸附组件

  • SE-VM2.png



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