美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪
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美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪
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简单介绍
美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪是为测量串行数据系统的信号完整性提供了全新的方式的误码率测试仪。
美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪 的详细介绍
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美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪是为测量串行数据系统的信号完整性提供了全新的方式的误码率测试仪。
美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪产品简介：
•BERTScope™误码率测试仪系列为测量串行数据系统的信号完整性提供了全新的方式
•将眼图分析与BER码型生成结合起来，使误码率检测更快、更准确、更**
•BERTScope™误码率测试仪系列可方便隔离问题字节和码型序列，然后使用七种厉害误码分析功能，进一步展开分析，提供前所有未的统计测量深度
•高达28.6 Gb/s 的码型发生、误码分析和BER 测试能力
•经校准的集成经校准的集成压力生成技术，满足多种标准压力接收机灵敏度和时钟恢复抖动容限测试要求
•扩展频谱时钟
•PCIe 2.0和3.0接收机测试
•IEEE 802.3ba和32G光纤通道测试
•码型生成和误码分析、高达28.6 Gb/秒的高速BER测量
•集成的压力发生器用于受压眼图灵敏度(SRS)和抖动容限一致性测试
•集成的BER关联眼图分析，并提供 PCI Express、USB、SATA和其他通信标准的通过/不通过模板
•在PRBS 31及高达28.6 Gb/秒的其它数字信号上进行误码定位和BER轮廓分析
•选配抖动分离及定位功能可以在 DUT 输入上快速进行抖动分解，准确进行压力校准
•可选的数字预加重处理器在码型发生器提供的数据上提供用户控制的预加重
•可选的时钟恢复单元提供很大 28.6 Gb/s 的时钟恢复
美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪产品特点：
•在一台仪器中同时提供生成和分析功能，为当今的第三代串行和IEEE802.3ba、32GFC通信标准提供接收机BER一致性测试
•测试信号的数据速率、应用的压力和数据码型都可以随时更改且彼此独立，允许多种信号变化来测试芯片组/系统灵敏度
•与其它BERT不同，提供熟悉的测试结果眼图，并与标准特定的模板进行对比，增强调试体验
•通过BER迅速了解信号完整性。误码定位提供了详细的BER码型灵敏度，加快了确定性与随机性 BER 误码的识别
•用三角测量法快速有效地确定长码型 PRBS31 抖动结构图形表示让抖动分析更**、跟进更简单
•可以使用PCI Express、10GBASE-KR、SATA、40GBASE-KR4、100GBASE-CAUI标准信号进行测试
•根据高速串行和通信系统标准，进行一致性测试及准确的眼图分析
•抖动裕量(Margin)测试、抖动容限一致性模板测试
•快速输入上升时间/高输入带宽错误检测器，准确分析信号完整性
•物理层测试套件，支持模板测试、抖动峰值、BER轮廓和Q因子分析，使用标准或用户自定义抖动容限模板库进行全方位测试
•集成的眼图和BER相关分析
•专有的误码定位分析技术，迅速了解BER性能限制，评估确定性误码与随机性误码
•执行详细的码型相关误码分析，执行误码突发分析或无误码间隔分析
产品应用：
•设计验证包括信号完整性、抖动和时序分析
•对高速串行系统、复杂设计的性能测试
•串行数据流和高性能网络系统认证测试
•设计/ 验证高速I/O 组件和系统
•信号完整性分析- 模板、峰值抖动、BER 轮廓、抖动分离及定位(Jitter Map)和Q因子分析
•设计/ 验证光发射接收机
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。
美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪技术参数：
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特性
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说明
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数据输出
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数据率范围
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BSA85C
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0.1-8.5 Gb/s
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BSA125C
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0.1-12.5 Gb/s
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BSA175C
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0.5-17.5 Gb/s
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BSA260C
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1-26 Gb/s
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BSA286C
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1-28.6Gb/s
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码型格式
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NRZ
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很性
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正常或反相
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可变交叉点电平范围
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25 to 75%
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码型
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硬件码型
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工业标准的PRBS码型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
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RAM 码型
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BSA85C
BSA125C
BSA175C
BSA260C
BSA286C
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128位~128Mb
每个A/B 页面中A 或B各有32Mb，共两组A/B 页面。单页面很大128Mb
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码型数据库
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基于K28.5 或CJTPAT 码型的SONET/SDH, Fibre Channel 码型;
2n 码型，n=3,4,5,6,7,9; 2n标记密度码型, n=7,9,23;其他
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误码插入
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长度
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1,2,4,8,16,32,64 长度突发序列
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频率
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单词或者重复
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数据 时钟 幅度
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配置
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差分输出，差分每一路可独立设置端接、幅度和偏置
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接口
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DC 耦合，50 欧姆反向端接。APC-3.5 连接器
可选校准到75欧姆端接，其他阻抗通过面板输入
可更换的Planar Crown适配器，可换为其他类型连接器
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预设逻辑电平
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LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
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端接电压
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–2V ~ 2V
预设值：1.5V，1.3V，1.0V，-2V，AC 耦合
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允许的幅度、端接和偏置电压
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时钟/数据延迟
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范围
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(以下情况全部大于1比特周期)
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≤ 1.1GHz
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30ns
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> 1.1GHz
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3ns
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分辨率
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100fs
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自校率
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在时间测量时，当温度或者比特率改变，推荐进行仪器自校准,校准过程小于10s
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外部时钟输入
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频率范围
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BSA85C
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0.1 to 8.5GHz
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BSA125C
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0.1 to 12.5GHz
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BSA175C
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0.5 to 17.5GHz
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BSA260C
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1 to 26GHz
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BSA286C
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1 to 28.6GHz
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定额功率
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900mVpp (+3dBm)
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很大功率
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2.0Vpp (+10dBm)
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回波损耗
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优于 –6dB
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接口
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50 欧姆SMA 母头，DC 耦合，可选的端机电压
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子速率
时钟输出
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频率范围
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0.125到3.125GHz(STR 选项可到12.5GHz)
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幅度范围
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额定电压1Vp-p，偏置0V
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跳变时间
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<500ps
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接口
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SMA 母头, 50 欧姆, DC 耦合, 端接电压0V
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触发输出
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很小脉冲宽度
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128 个时钟周期(模式1)
512 个时钟周期(模式2)
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跳变时间
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<500ps
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抖动(p-p,数据到触发)
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<10ps, 典型值(BSA175C、 BSA260C和 BSA286C)
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输出幅度
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>300mVp-p,偏置 650mV
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接口
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50欧姆 SMA 母头
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码型启动输入
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逻辑电平
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LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高)
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门限电平
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+1.2V 典型值
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很大非损伤输入电压范围
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–0.5V to +5.0V
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很小脉冲宽度
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128 连续时钟周期
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很大重复率
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512 连续时钟周期
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接口
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SMA 母头， >1K 欧姆阻抗，端接到0V
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美国Tektronix(泰克) BSA85C误码率测试仪
