入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
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产品名称:
入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
产品型号:
德国FISCHER X-RAY XAN 215
产品展商:
其它品牌
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简单介绍
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪 的详细介绍
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德国FISCHER X-RAY XAN
215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
215是一款颇具性价比的入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯(17)到铀(92)，多时可同时测定24种元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，本款仪器有着初设的准确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
先进的Si-PIN的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品应用：
典型的应用领域有：
珠宝、贵金属和牙科用合金分析
黄金制品和K金制品分析
铂金制品和银制品分析
铑制品分析
其他合金分析和镀层厚度测量
多镀层厚度测量
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪：
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通用规格
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设计用途
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采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF），
用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度
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元素范围
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从元素氯（17）到铀（92），多时可同时测定24种元素。
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重复性
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测量金元素时≤1‰，测量时间60秒
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形式设计
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台式仪器，测量门向上开启
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测量方向
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由下往上
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X射线源
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X射线管
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带铍窗口的钨靶射线管
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高压
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三档：30KV，40KV，50KV
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孔径（准直器）
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φ1mm；可选φ2mm
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测量点尺寸
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当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm
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X射线探测
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X射线探测器
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采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器
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能量分辨率
（Mn元素Kα半高宽）
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≤180eV
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测量距离
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0...10mm
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通过受专有保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。
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样品定位
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样品放置
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手动
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视频系统
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高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控
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十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明
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图像发达倍数
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40x~160x
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工作台
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形式设计
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固定工作台
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样品放置可用区域
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310x320mm
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样品较大重量
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13KG
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样品较高高度
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90mm
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电气参数
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电源要求
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AC 220V 50Hz
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功耗
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较大120W（不包括计算机）
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保护等级
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IP40
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尺寸规格
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外部尺寸（宽x深x高）
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403x588x365mm
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重量
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大约45KG
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环境要求
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使用时温度
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10℃~40℃
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存储或运输时温度
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0℃~50℃
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空气相对湿度
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≤95%，无结露
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计算单元
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计算机
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Windows®-PC
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软件
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标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
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可选：Fischer WinFTM®
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执行标准
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CE合格标准
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EN 61010
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X射线标准
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DIN ISO 3497 和ASTM B 568
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形式批准
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作为受完全保护的仪器
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符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定
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