X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
产品型号:
德国FISCHER X-RAY XDL 230
产品展商:
其它品牌
产品文档:
无相关文档
简单介绍
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 的详细介绍
埃登威自动化-专业进口仪器供应商！我们提供丰富的仪器仪表种类、有竞争力的产品价格及良好的售后服务。
德国FISCHER X-RAY XDL 230
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230
有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数：
|
通用规格
|
|
设计用途
|
能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），
用于测定超薄镀层和溶液分析。
|
|
元素范围
|
从元素氯（17）到铀（92）
|
|
配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多时可同时测定24种元素
|
|
设计理念
|
台式仪器，测量门向上开启
|
|
测量方向
|
由上往下
|
|
X射线源
|
|
X射线管
|
带铍窗口的钨管
|
|
高压
|
三档：30KV，40KV，50KV
|
|
孔径（准直器）
|
φ0.3mm 可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm
|
|
测量点尺寸
|
取决于测量距离及使用的准直器大小
|
|
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
|
|
较小的测量点大小约φ0.2mm
|
|
X射线探测
|
|
X射线接收器
|
比例接收器
|
|
测量距离
|
0~80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法
|
|
样品定位
|
|
视频系统
|
高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
|
|
手动聚焦，对被测位置进行监控
|
|
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
|
|
可调节亮度的LED照明，激光光点用于准确定位样品
|
|
放大倍数
|
40x~160x
|
|
电器参数
|
|
电源要求
|
200V，50Hz
|
|
功率
|
很大120W（不包括计算机）
|
|
保护等级
|
IP40
|
|
尺寸规格
|
|
外部尺寸
|
宽x深x高（mm）：570x760x650
|
|
内部测量室尺寸
|
宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品较大高度”部分的说明）
|
|
重量
|
107KG
|
|
环境要求
|
|
使用时温度
|
10℃~40℃
|
|
存储或运输时温度
|
0℃~50℃
|
|
空气相对湿度
|
≤95% 无结露
|
|
工作台
|
|
设计
|
手动X/Y平台
|
|
X/Y平台较大移动范围
|
92x150mm
|
|
可用样品放置区域
|
420x450mm
|
|
Z轴
|
马达驱动
|
|
Z轴移动范围
|
140mm
|
|
样品很大重量
|
20KG
|
|
样品很大高度
|
140mm
|
|
激光（1级）定位点
|
有
|
|
计算单元
|
|
计算机
|
带扩展卡的Windows®计算机系统
|
|
软件
|
标准：WinFTM®V.6 LIGHT
|
|
可选：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER
|
|
执行标准
|
|
CE合格标准
|
EN 61010
|
|
型式许可
|
作为受完全保护的仪器
|
|
型式许可完全符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定
|
